<sup id="mqcaw"></sup>
<strike id="mqcaw"></strike>
<strike id="mqcaw"><s id="mqcaw"></s></strike>
<tr id="mqcaw"><center id="mqcaw"></center></tr>
<ul id="mqcaw"></ul>
<cite id="qa4we"></cite>
<code id="qa4we"><acronym id="qa4we"></acronym></code>
<rt id="qa4we"></rt>
<sup id="qa4we"><tbody id="qa4we"></tbody></sup>
<code id="qa4we"><tr id="qa4we"></tr></code>
<rt id="qa4we"><tr id="qa4we"></tr></rt>
您好！歡迎訪問深圳市偉峰儀器儀表有限公司網站！
返回首頁
|
在線留言
|
聯系我們
全國服務咨詢熱線:
15989501235
網站首頁
關于我們
產品中心
新聞中心
技術文章
在線留言
聯系我們
熱門關鍵詞：
測厚儀，硬度計，粒子計數器，風速儀，測振儀，粗糙度儀，測溫儀，轉速表
當前位置：
首頁
>
技術文章
> ST-20掌上型方塊電阻測試儀
ST-20掌上型方塊電阻測試儀
更新時間：2020-05-21 點擊次數：1115
ST-20掌上型方塊電阻測試儀
是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。
◆ 特點
：
1
采用九十年代推出的大規模集成電路作為儀器的主要部分，測量準確穩定
2
低功耗
3
采用單個電池供電，帶電池欠壓指示
4
儀器體積僅為：130mmX65mm X23mm
5
特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜
6
探頭帶抗靜電模塊
◆ 技術指標：
測量范圍
基本量程：方塊電阻10.0-199.9(Ω/口)
擴展量程：方塊電阻100-1999(Ω/口)
測量不確定度
≤5%
探針規格
探針間距：3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ
恒流源
測量過程誤差：≤±0.8%
電源
9V疊層電池1節
上一篇：
ST-21L型方塊電阻測試儀
下一篇：
RTS-3型手持式四探針測試儀
深圳市偉峰儀器儀表有限公司
地址：深圳市寶安區沙井街道步涌社區新和大道129號-177號(單號)E1306
郵箱：weifeng1718@163.com
傳真：86-0755-61605261
快速鏈接
首頁
關于我們
產品展示
新聞資訊
技術文章
在線留言
聯系我們
關注我們
歡迎您添加我們的微信好友了解更多信息：
歡迎掃碼加微信
了解更多信息
版權所有 © 2025 深圳市偉峰儀器儀表有限公司(www.nxjtfm.com) All Rights Reserved
備案號：粵ICP備14041131號
管理登陸
技術支持：
化工儀器網
sitemap.xml
電話
0755-23109332
在線交流
掃碼加微信
返回頂部
當前位置：
地址：深圳市寶安區沙井街道步涌社區新和大道129號-177號(單號)E1306
郵箱：weifeng1718@163.com
傳真：86-0755-61605261