CMX DL+超聲波測(cè)厚儀

美國達(dá)高特CMX DL+超聲波測(cè)厚儀

The CMX DL+ 測(cè)厚儀不僅有MVX的所有功能，而且還有同時(shí)測(cè)量金屬基體和表面非金屬涂層厚度的能力。

美國達(dá)高特CMX DL+超聲波測(cè)厚儀特點(diǎn)

• 測(cè)量方式（僅測(cè)量基體厚度、同時(shí)測(cè)量基體和涂層的厚度、僅測(cè)量涂層厚度）

• 顯示模式（數(shù)字式顯示、B掃描顯示、A掃描顯示<僅cmx>）

• 增益可調(diào)節(jié)：超低、低、中、高、超高

• 增益值可到110dB

• 自動(dòng)增益控制（AGC）

• 時(shí)間增益校正（TCG）

• 探頭自動(dòng)識(shí)別，自動(dòng)調(diào)零和溫度補(bǔ)償

• Z大值、Z小值顯示

• 可存儲(chǔ)64個(gè)用戶參數(shù)設(shè)置

• 高速掃查（50次/秒）

• 高達(dá)140HZ的脈沖重復(fù)頻率

• B掃描顯示用于顯示被測(cè)材料的截面形狀

• A掃描波形顯示和RF顯示（CMX DL+）

• 差值測(cè)量模式

• 高速掃查功能可用于快速找到壁厚的Z小值

• 上/下限聲光報(bào)警功能

• 數(shù)據(jù)存貯：可存儲(chǔ)21000個(gè)測(cè)量厚度值或者16000個(gè)測(cè)量厚度值和B掃描圖形及參數(shù)

• 可通過軟件與計(jì)算機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)交換，方便用戶打印檢測(cè)報(bào)告

美國達(dá)高特CMX DL+超聲波測(cè)厚儀參數(shù)；

鍵盤

12鍵按鍵

測(cè)量范圍

界面波-底波(P-E)方式：0.63－508mm

帶自動(dòng)溫度補(bǔ)償?shù)慕缑娌?底波(PETP)方式： 0.63－508mm

多層測(cè)量(PECT)方式：0.63－508mm（基體） 0.01－2.54mm（表面涂層）

穿透涂層測(cè)量(E-E)模式：2.54—102mm（因涂層的不同會(huì)有所變化）

僅測(cè)量涂層(CT)模式：0.0127——2.54mm（因涂層的不同會(huì)有所變化）

顯示精度

0.01mm（可方便的進(jìn)行公制和英制的轉(zhuǎn)換）

聲速范圍

1250－13995m/s

工作溫度

-10℃—60℃

探頭類型

1—10MHZ雙晶探頭

探頭接口

LEMO“00”，可以使用MX、MMX系列測(cè)厚儀的探頭

通訊接口

RS232接口（配備USB轉(zhuǎn)RS232接頭）

電池工作時(shí)間

150小時(shí)（3節(jié)5號(hào)堿性電池）100小時(shí)（3節(jié)5號(hào)鎳鎘電池）

省電功能

5分鐘無任何操作后能自動(dòng)關(guān)機(jī)

顯 示 屏

62X45.7mm（240 X 160像素），大數(shù)字厚度值顯示（厚度值數(shù)字高度可達(dá)17.78mm）

外觀尺寸

63.5X165X31.5 mm

重量

382 g

顯示精度

合金外殼