奧林巴斯olympus 45MG測厚儀高溫表面測量

45MG超聲波測厚儀對內部腐蝕的金屬材料厚度測量

奧林巴斯olympus 45MG測厚儀對內部腐蝕的金屬材料進行厚度測量使用雙晶探頭

45MG測厚儀的一個主要應用是測量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、船體外殼及其它結構的剩余厚度。這些應用中zui常使用的是雙晶探頭。

• 用于標準D79X系列雙晶探頭的自動探頭識別功能
• 當校準過程中出現雙回波時，會發出雙回波警告
• 回波到回波/穿透涂層選項可測量帶有漆層和涂層的表面
• 高溫測量：溫度可高達500 °C

奧林巴斯olympus 45MG測厚儀B掃描成像（基于時間）

45MG儀器提供的B掃描功能，可在屏幕上將實時厚度讀數轉換為橫截面圖像。在觀察材料厚度在一定距離上發生的變化時，這個標準功能非常有用。探頭一接觸到材料表面，就會激活B掃描。凍結zui小值功能用于顯示掃查區域的zui小厚度值。可選45MG數據記錄器zui多可存儲單個B掃描中的10000個厚度讀數。

奧林巴斯olympus 45MG測厚儀高溫表面

45MG測厚儀配上D932系列探頭（D790、D790­-SM、D790-RL和D790-SL），是測量高溫材料（溫度高達500 ºC）的理想選擇，并可獲得穩定的厚度讀數。45MG的零位補償功能，通過補償探頭延遲塊因熱漂移而產生的溫度變化，提高了在高溫表面上進行測量的性。