奧林巴斯olympus 45MG測(cè)厚儀穿透涂層特點(diǎn)

奧林巴斯olympus 45MG測(cè)厚儀穿透涂層特點(diǎn)

奧林巴斯olympus 45MG測(cè)厚儀回波到回波，

使用回波到回波選項(xiàng)，儀器屏幕上會(huì)顯示金屬的實(shí)際厚度，而涂層的厚度會(huì)被忽略。穿透涂層選項(xiàng)測(cè)量金屬厚度與非金屬涂層的厚度，這兩個(gè)厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，在進(jìn)行厚度測(cè)量時(shí)，無(wú)需去掉材料表面的漆層或涂層

測(cè)厚儀使用多個(gè)底面回波，顯示不計(jì)涂層厚度的實(shí)際金屬厚度：

• 自動(dòng)回波到回波
• 手動(dòng)回波到回波（僅出現(xiàn)于A掃描選項(xiàng)），可進(jìn)行以下操作：
  • 增益調(diào)整
  • 擴(kuò)展空白
  • 回波空白

奧林巴斯olympus 45MG測(cè)厚儀穿透涂層技術(shù)

使用單個(gè)底面回波測(cè)量金屬的實(shí)際厚度。使用這個(gè)技術(shù)可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個(gè)厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，要得到金屬的厚度，無(wú)需去掉表面的漆層和涂層。穿透涂層測(cè)量技術(shù)使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。